进口布鲁克粉末衍射仪生产厂家

XRD设备的检测项目：用于测定无机物、有机物及配位化合物（晶体状态）分子的准确三维立体结构，通过晶体结构计算出测定分子详细的键长、键角、 构型、构象、成键电子密度及分子在晶格中的排列情况，是对化合物直接、可靠的鉴定，具体测试项目如下： 扫描时间=（扫描角度/扫描速率） 1.XRD-精扫：主要是对于扫描速率低于1的样品，常规扫描的速率一般大于1.2.XRD-常规广角测试（10min以下）：指的是扫描时间低于10min，扫描角度在5°-90°的样品.2.XRD-常规广角测试（10min-20min）：指的是扫描时间10min-20min，扫描角度在5°-90°的样品.3.XRD-常规广角测试（20min-30min）：指的是扫描时间20min-30min，扫描角度在5°-90°的样品.4.XRD-常规小角测试（10min以下）：指的是扫描时间低于10min，扫描角度在0.6°-90°的样品。XRD设备的基本构造是什么样的？进口布鲁克粉末衍射仪生产厂家

XRD设备是用于材料研究、工艺开发和质量控制的新一代仪器。 该系统具有全自动源和检测器光学元件以及水平样品安装，可以在计算机/配方控制下在标准和高分辨率 X 射线衍射和 X 射线反射率模式之间切换，而无需手动更改配置。 这可确保每次使用佳工具配置，而无需**设置工具以供使用。得益于出色的分辨率、低角度和低背景，XRD设备是从相识别、定量相分析到晶体结构分析的所有粉末衍射应用的理想解决方案。XRD设备能在整个角度范围内，保证实现精确的仪器对准（精度等于或优于±0.02°2θ）。加上遵循着严格的仪器验证协议，它可为所有应用提供精确数据。广东XRD供应商XRD设备使用注意事项：固体样品表面>10×10mm，厚度在5μm以上，表面必须平整。

X射线衍射方法具有不损伤样品、无污染、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量信息等优点。因此,X射线衍射分析法作为材料结构和成分分析的一种现代科学方法,已逐步在各学科研究和生产中普遍应用。 X射线同无线电波、可见光、紫外线等一样,本质上都属于电磁波,只是彼此之间占据不同的波长范围而已。X射线的波长较短,大约在10-8～10-10cm之间。当X射线照射到晶体物质上,由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成,这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有相同数量级,故由不同原子散射的X射线相互干涉,在某些特殊方向上产生强X射线衍射,衍射线在空间分布的方位和强度,与晶体结构密切相关不同的晶体物质具有自己独特的衍射样,这就是X射线衍射的基本原理。

XRD设备能轻松切换包括X射线管、光学器件、样品台和探测器在内的光路组件，而无需对准。而通过自动识别所有组件，您还可以实现配置实时调整与验证。软件插件是一独特的虚拟测角仪软件解决方案，它可显示真实测角仪的所有光路组件及其状态，并对存在的任何配置进行报告。XRD设备的操作轻松、直观、畅通无阻且支持失效保护，适合任何用户（包括新手和**）使用。万物皆可测的XRD：提供多个样品支持器，适用于每一类样品；6位自动进样器；通用型设计：适用于所有粉末应用。XRD设备的使用可以满足不同类型的研究需要。

XRD仪器操作规程：制样：1. 粉末样品制样方法： 粉末样品应干燥，粒度一般要求约10~80μm，应过200目筛子（约0.08mm），且避免颗粒不均匀。用药勺取适量样品于玻璃样品架中间的槽里，另取一块载玻片，用载玻片轻轻将样品压紧，并将高出样品架表面的多余粉末刮去，如此重复几次使样品表面平整。将样品架边缘的样品刮掉，擦干净即可进行测试。注意事项：玻璃样品架易碎、数量有限，使用要千万小心，如有损坏按原价赔偿。制样时用力要均匀，不可力度过大，以免形成粉粒定向排列。样品一定要刮平，且与样品架表面高度一致，否则引起测量角度和对应d值偏差。其他样品：对于不易研碎的样品，可先将其处理成与窗孔大小一致，磨平一面，再用橡皮泥或石蜡将其固定在窗孔内，固定时橡皮泥或石蜡等请注意略低于样品，不要与样品齐平。片状、纤维状或薄膜样品也可类似固定在样品架的窗孔内，应注意使样品表面与样品架平齐。XRD 还可以测定材料中晶粒的大小或其排布取向。进口布鲁克D8 Advance仪器原理

XRD设备可以应用于多个行业。进口布鲁克粉末衍射仪生产厂家

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